用仿真来验证信 的畸变是否与上升沿有关,上升沿越陡畸变越大!

1,信 完整性李玉山翻译Eric博士书籍的第二幅图片:

2,为了便于大家理解,我们来一次仿真,验证一下,打开仿真软件,双击

打开软件后,界面如下:

单击上图红色框中图标“

”新建一个

原理图如下界面:

把电源和地当理想的,就是把PDN Editor最小化,最大化free-form SCH Editor后如下图:

点击上图左边框其中一个图标“

”,然后放置到工作区,因为需要2个线路,所以需要放4个器件,放好后如图:

再次点击左边框其中一个图标“

下面我们加入简易的模型双击“U1.1”图标出现

如上图操作完成后如下图:

完成后如图:

完成后如图:

下面我们再加入另一个简易的模型双击“U3.1”图标出现如上面“U1.1”的操作最后如图:

点击确定后工作界面如图:

图中用了2个MOD模型分别是CMOS 3.3v 01ns和CMOS 3.3v 03ns的模型,分别是1ns和3ns

的上升沿模型

点击图中的“

”图标出现:

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