前 言
为减少用户在产品开发过程中对DSP外设接口程序进行整合的难度,创龙科技提供已对各DSP主要外设接口实现底层初始化的RTOS综合功能测试IFD(Integrated Function Demo)案例程序。用户可基于此IFD案例程序模板进行开发,加快项目研发进度。
IFD案例位于产品资料“4-软件资料DemoDSP_Demo”目录下,主要功能为EEPROM、NOR FLASH和NAND FLASH等存储设备读写速率测试,以及SRIO、PCIe、EMIF16和Ethernet等外设接口测试,详细说明见下表。
表 1
设备/接口 |
测试内容 |
读写速率 |
EEPROM |
数据读写速率及正确性 |
write:0.02MB/s |
NAND FLASH |
数据读写速率及正确性 |
write:0.48MB/s |
NOR FLASH |
数据读写速率及正确性 |
write:0.30MB/s |
DDR |
数据写入速率及正确性 |
write:33321Mbps |
EMIF16(FPGA) |
数据写入速率及正确性 |
write:44.29MB/s |
PCIe |
作为PCIe EP设备进行通信 |
/ |
SRIO(FPGA) |
数据读写速率及正确性 |
write:9234Mbps |
Sensor |
温度读取 |
/ |
FAN |
风扇控制 |
/ |
Ethernet |
IP地址动态获取 |
/ |
LED |
LED控制 |
/ |
UART |
串口回显 |
/ |
KEY |
按键检测 |
/ |
用户使用核心板进行二次开发时,仅需专注上层运用,降低了开发难度和时间成本,可快速进行产品方案评估与技术预研。
图 1 核心板正面图
硬件连接如下:
- 请通过Micro USB线将调试串口与PC机进行连接,打开串口调试终端SecureCRT并正确进行串口连接设置。
- 如需测试DSP与FPGA的SRIO、EMIF16通信,请先加载案例bin目录下的IFD_xc7k325t.bit可执行文件至FPGA端后,再运行IFD案例。
- 如需测试Ethernet接口,请使用 线将评估板的千兆 口DSP ETH0和DSP ETH1分别连接至两个不同 段的路由器。如仅需测试一个 口,请将任意一个 口连接至路由器。
- 如需测试PCIe接口,请使用另一块TL6678F-EasyEVM评估板(作为PCIe RC设备,下图前者)和待加载IFD案例程序的TL6678F-EasyEVM评估板(作为PCIe EP设备,下图后者)分别插到创龙科技的TL-PCIE-TC转接板的HOST和SLAVE插槽,然后将TL-PCIE-TC转接板上电,此时转接板将向PCIe RC和PCIe EP设备供电,再请将产品资料“4-软件资料DemoDSP_DemonoOS-demospcie_rc”案例程序可执行文件pcie_rc_noOS_C66x.out加载至作为PCIe RC设备的TL6678F-EasyEVM评估板。
图 1
请运行IFD案例程序,串口调试终端将会打印如下测试结果。
图 2
EEPROM
测试数据大小为32KByte,读速率为0.04MB/s,写速率为0.02MB/s,误码率为0。
图 3
NAND FLASH
测试数据大小为128KByte,读速率为0.80MB/s,写速率为0.48MB/s,误码率为0。
图 4
NOR FLASH
测试数据大小为128KByte,读速率为1.27MB/s,写速率为0.11MB/s,误码率为0。
图 5
DDR3
测试数据大小为64MByte,写速率为33321Mbps,误码率为0。
图 6
EMIF16(FPGA)
测试数据大小为2MByte,读速率为44.29MB/s,写速率为42.50MB/s,误码率为0。
图 7
PCIe
串口调试终端打印如下信息,则说明评估板作为PCIe EP设备与PCIe RC设备通信成功。
图 8
SRIO(FPGA)
测试数据大小为64KByte,写速率为9234Mbps,读速率为7503Mbps,误码率为0。
图 9
Sensor
串口调试终端打印读取到的温度数据。
图 10
FAN
程序控制风扇先转动后停止,再持续转动。
图 11
Ethernet
实现TCP和UDP Server 络功能,串口调试终端同时打印动态获取到的IP地址。
图 12
LED
程序控制所有DSP端板载用户指示灯进行闪烁。
UART
请在串口调试终端窗口输入任意字符,此时串口调试终端将会回显输入的字符。
图 13
KEY
请按下评估板用户按键SW2,此时串口调试终端将会打印如下提示信息。
图 14
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