光学算法——PSD功率谱密度

前言

       在光学高精度测量领域,有众多评价测量面形的指标,其中PSD(功率谱密度)是针对中频面形误差评价的重要参数。

一、PSD简介

       在移相干涉测量领域,面形误差评价是非常重要的环节,结合多种评价参数进行评估,可以获取被测物的相关质量信息以及测量的准确度。常见的评价参数有PV值(峰谷差)、RMS值(均方根)、Zernike多项式拟合系数等等,它们有各自的特点和内在联系。

       在大功率激光器件出现后,中频面形误差评价引起了光学检测领域的重点关注,过往的评价指标难以较好得应用在中频信息的分析上。为了更好地研究中频面形误差,众多光学领域的学者采用了PSD(功率谱密度)作为评价中频面形的指标,这也是目前针对中频部分面形误差评价的最好方法。

       下面介绍下功率谱密度的原理和实现。

二、原理及实现

        在对光学表面面形分析时,PSD定义为波面频率分量傅里叶频谱振幅的平方,一维公式为:

(1)

       公式(1)中,

(2)

       公式(2)中z(x)的一维波面信息函数。

       移相干涉仪所测得的波面数据都是离散的,因此将公式(2)的A(f)代入公式(1),并离散化,可以得到公式(3):

(3)

       公式(3)中N为总的采样点数,

       公式(1)中频率域的自变量f表示为公式(4):

(4)

       PSD和f的自变量都是m,所以在求解PSD和f的关系时,只需要求对应m下的PSD和f即可。

结合公式(3),对面形的某一一维切片数据进行一维PSD计算,可得到如图1所示的PSD曲线。

       如上图所示,横坐标是f,纵坐标是PSD,两项数据均取了log10,目的是为了更好地观测曲线的细节。f的单位是

       一般PSD曲线上还会增加一条控制线,用于评估被测物品的面形质量,若曲线均低于控制线,则说明产品符合要求。

       控制线标准公式(5)为:

(5)

       式中,f为空间频率,A为比例系数,B为幂指数,一般取值1到3,C和D分别是最小和最大空间频率。

       二维PSD的计算方式同一维相比,实现了全平面的分析,而公式也是从x单方向变为x和y双方向,具体实现可参考宋德臣的《波面PSD的干涉测试与计算软件研究》论文。

三、C++测试代码

四、Matlab测试代码

        注意psd默认窗函数不是矩形窗,因为我C++代码没加汉宁窗等窗函数,不加窗就是矩形窗,因此在Matlab里需要创建矩形窗;除此之外,输入的Nfft也很重要,测试代码里创建的仿真函数总共有1000个点,从0开始到1-1/Fs,如果从0到1就是1001个点,1其实就是下个大周期里的0;C++里我写的psd函数没有输入Nfft值,是因为我默认这个值等于Slice的长度,因此Matlab测试代码里Nfft也等于length(y)。

五、测试效果对比

       从图1图2可以看出,C++代码用Matlab实现后对比,效果同Matlab自带的psd一致,我仿真的函数100应该属于目标值,在数据里也就是第101个点(从0开始计数),观察该位置的数据,两者得到的值均为2250;而第100个点(相对无关点)的结果有差异是因为两个值都非常接近于0,考虑到计算精度、单位精度等原因,这个差异是可以接受的。

        从图3看出,两个目标值都对应峰值,说明计算准确。

       从图4图5看出,第101个点的数值计算非常准确,第100个点同Matlab又有了进一步的差异,属于精度差异,可以忽略,如果想追求计算的绝对精准,可以研究下C++和Matlab底层数据计算逻辑以及不同数据结构精度差异。

        图6是我用OpenCV随便写的图,比较简陋,但是可以看出同Matlab是一致的。

六、PSD优点

      用PSD来评价测量所得波面数据有如下优点:

  1. 通过PSD曲线,能得到丰富的面形特征信息。功率谱密度的实质是傅里叶频谱分析,获取各个频率分量的傅里叶频谱振幅平方,如公式(1)所言,量化了被测物表面轮廓在各个空间频率区间的误差,尤其便于评估中频波面误差,这是其他评价参数难以分析的。
  2. PSD曲线评价结果直观且便捷。通过增加PSD控制线的方式,基于不同精度要求给出不同参数的控制线,可以直观地从曲线图中看出不合格的频率区间,进而根据不同的曲线特征快速分析误差产生原因,大大提高工作效率。

       综上所述,PSD(功率谱密度)对光学检测和分析提供了重要的数据支持,是我们光学领域非常关键的一项评价参数。

七、参考文献

[1]宋德臣. 波面PSD的干涉测试与计算软件研究[D].南京理工大学,2010.

[2]杨相会,沈卫星,张雪洁,马晓君.不同干涉仪检测光学元件功率谱密度的比较[J].中国激光,2016,43(09):118-125.

[3]许乔,顾元元,柴林,李伟.大口径光学元件波前功率谱密度检测[J].光学学 ,2001(03):344-347.

[4]沈卫星,徐德衍.强激光光学元件表面功率谱密度函数估计[J].强激光与粒子束,2000(04):392-396.

[5]张国伟. 高功率激光装置光学元件PSD1检测方法的研究[D].南京理工大学,2013.

总结

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