问题1（HAL库stm32cubemx）：

使用ADC / DMA 循环自动采样的方式，但是采样数据与实际数据相差比较大，小了很多。

解决办法

配置adc的时候，采样周期需要设置大一些。
sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_71CYCLES_5 ;

原因分析

采样周期太小，会导致采样不准确，采样周期越大越准确。
采样周期太大会影响采样时间，计算公式：
采样时间（us） = (12.5+SamplingTime ) / ADC时钟（MHZ）

问题2：

仿真调试时，采样准确，但是设备重新上电后，采样不准确，偏小。

解决办法

上电后延时一会，再运行校准ADC的操作 ：

HAL_Delay();
HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1);

原因分析

电路板刚上电时，电容太大的原因，电压还没上升到3.3V，但是程序已经在运行了，这时执行校准会导致ADC不准确。