系统搭建介绍
专注于晶圆芯片参数自动化测试系统的研发与销 售。 基于ATE2000芯片自动化测试软件，集成 测试仪器，为半导体功率芯片、光电器件、 MEMS传感器测试提供完整的系统解决方案。 技术优势 ? 十年+半导体晶圆芯片参数自动化测试系统开发 经验，复合型技术团队集光学、电学、机械、仪 器、测试软件开发能力，快速提供匹配方案，专 业化服务。 ? 测试软件平台：ATE2000芯片参数自动化测试软 件、QuickTEST材料参数测试软件，支持各厂商 仪器、探针台，结构化设计、模块化开发、快速 定制。 ? 国产全系探针台：手动探针台、自动探针台、高 低温探针台、光电探针台、可定制专属应用， 性 能先进、质量可靠、售后无忧。
系统IV,CV等综合测试结构
晶圆级芯片自动化测试系统基本结构
ATE2000自动化测试软件平台架构
ATE2000自动化测试软件平台 ATE2000自动化测试软件平台
多场景测试，人机界面UI 适合芯片自动化测试 多场景测试，人机界面UI 适合芯片自动化测试
人机交互设置界面： 测试参数条件可保存和回调 人机交互设置界面： 测试参数条件可保存和回调
ATE2000自动化测试软件平台功能 ATE2000自动化测试软件平台功能
控制LCR与数字表等 控制LCR与数字表等
采用ATE2000构成晶圆自动化测试系统 采用ATE2000构成晶圆自动化测试系统
案例2： 射频SAW 晶圆芯片自动化参数测试系统 案例2： 射频SAW 晶圆芯片自动化参数测试系统
电容参数测试结构
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