位置度
位置度是一个形体的轴线或中心平面允许自身位置变动的范围，即一个形体的轴线或中心平面的实际位置相许变动范围，是限制被测要素的实际位置对理想位置变动量的指标。
验证特征位置相对于基准的准确真实位置的偏差程度。位置度是一种几何尺寸标注和公差（GD&T）位置控制，用于描述特征相对于基准参考或其他特征的完美准确位置。
用处：
1、验证特征偏离其准确真实位置的程度
2、控制特征相对于基准参考或其他特征的位置。
说明：位置度控制特征位置相对于基准面是否偏离其准确真实位置的程度。它可以应用于圆柱形或锥形特征，如孔或凸台，以及两个匹配的平面特征和球形特征。
注：
本次测量可以不使用基准。在定义基准时，从匹配测量点提取匹配几何体，并更具基准参考框架对齐。否则，将对其匹配的几何体，以使偏差最小化到参考特征。这种测量也可以在不进行内部优化和重新定位搜索到的配对几何体的情况下进行。
一：准备工作
1.确保存在参考数据
2.在主页里打开检测模块，选择位置度
二：选择方法（挑选目标实体，所需的目标实体不同于所依靠的方法）
选项1：位置度（对象选择圆柱、圆锥）
方法及描述：对于圆柱形或锥形特征，公差带在参考特征的中心轴上形成圆柱形范围。通过检查可以判断封闭配对测量点提取的圆柱形配对几何体的末端的最小圆柱体的位置是否属于公差带。
选项2：位置度（对象选择平面）
方法及描述：对于两个平行的平面特征，在两个平行的平面特征的中间平面上形成双向板状范围的公差带。通过检查判断配对测量点上创建的两个平面配对几何体的平均平面是否属于公差带。
选项3：位置度（对象选择球）
方法及描述：对于球面特征，球面范围位于球面特征中心，形成公差带。通过辅助球体的中心点位置与配对测量点创建的球形配对几何体的中心点位置之间的偏差来检查位置公差。通过检查判断偏差是否在给定公差范围内。
使用基准参考框架通过优化和重新定向每个基准参考框架搜索的配对几何体来计算位置公差。
注：定义特定基准条件并将其用作测量的基准参考框架时，使用此选项。
尺寸公差通过在输入框中输入值来指定特征和公差范围。
基准使用方法：
1.作为参考
根据在目标面或边的特性中定义的拟合方法查找配对几何体。
注：作为参考选项遵循拟合选项对特性的定义。定义测量GD&T的基准时，作为参考选项使用目标特性中预定义的拟合方法来查找配对的几何图形。
2.在空间中
查找最小拟合几何体，该几何体在法线方向上与使用最小二乘拟合方法找到的最佳拟合几何体的中心点接触最近的配对测量点。
注：在平面和圆柱面或圆边中，空间内配合选项用于使用最小分离拟合方法查找封闭配对测量点的板状或管状几何体的最大内接几何。
3.在材质中
查找最大拟合几何体，该几何体在法线方向上与使用最小二乘拟合方法找到的最佳拟合几何体的中心点接触最远的配对测量点。
注：注：在平面和圆柱面或圆边中，在材质中选项用于查找使用最小间距拟合方法封闭选定实体的板状或管状几何体的最小外切几何体。
实体约束：定义目标特征的实体约束
1.Maximum Material Condition:最大材料条件MMC
指具有尺寸的特征包含规定尺寸限制内的最大材料量的条件，例如最小孔径或最大轴直径。
2.Least Material Condition:最小材料条件LMC
是指具有尺寸的特征在规定的尺寸限制（例如最大孔径或最小轴直径）内包含最小材料量的条件。
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