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背景介绍
今天带给大家的是如何对晶粒进行分析统计，所用的软件是Nano Measurer和Origin 9.0，并附软件简单的安装及使用教程，希望对大家有所帮助！
软件安装
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解压安装包，运行Nano Measurer
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选择安装语言
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一直点击下一步安装
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直到整个软件安装完成
使用教程
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运行Nano Measurer1.2软件，打开需要统计的SEM图片（Jpg格式），首先设置标尺，如图
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在对颗粒进行标记统计，至少需要50个数据及以上
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然后点击 告，将数据生成txt文件，保存在桌面以方便查找
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打开Origin作图软件，将txt数据复制到Origin中，注意，只要数值
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点击OK
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选中Count(Y)，使数据生成柱状图（Column）
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对柱状图进行正态分布拟合：
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点击Function 的对话框的下三角标，选中Gauss
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再点击Fit进行拟合，得到如图
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再对原始数据进行求取平均值和标准差
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点击OK，得到平均值和标准差
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对图像进行处理，即可得到我们想要的图像
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